產品特點：
用戶可以查看他們希望查看任何數據
通過電腦安全便捷的遠程訪問
多層級的敏感數據保護
便捷的程序入口、試驗設置和產品監控
試驗數據可以導出為Excel格式並通過USB接口進行傳輸
HAST測試條件有130℃、85%RH、230KPa大氣壓，96hour測試時間。
HAST試驗箱是利用高溫(通常為130 ℃)、高相對濕度(約85%)、高大氣壓力的條件（達3 atm）來加速潮氣通過外部保護材料或芯片引線周圍的密封封裝的試驗設備，用於評估產品及材料在高溫，高濕，高氣壓條件下對濕度的抵抗能力，加速其失效過程。
該試驗檢查芯片及其他材料長期貯存條件下，高溫和時間對器件的影響。本規範適用於量產芯片驗證測試階段的HAST測試需求，僅針對非密封封裝（塑料封裝），帶偏置（bHAST）和不帶偏置（uHAST）的測試。
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標準設計更安全
內膽采用圓弧設計防止結露滴水，符合國家安全容器規範；
多重保護功能
三道高溫保護裝置、濕度用水斷水保護與電熱斷水空焚保護、機台停機時自動排除飽和蒸氣壓力、氣動機構壓力保護等
穩定性更高
壓力值采實際感應偵測，確保溫度、濕度及壓力值準確度；
濕度自由選擇
濕度自由選擇飽和（100%R.H濕度）與非飽和（75%R.H濕度）自由設定；
智能化高
支持電腦連接，
利用USB數據、
曲線導出保存
GB-T 2423.40-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
IEC 60068-2-66-1994 環境試驗 第2-66部分:試驗方法 試驗Cx:穩態濕熱(不飽合加壓蒸汽)
JESD22-A100 循環溫濕度偏置壽命
JESD22-A101 THB加速式溫濕度及偏壓測試
JESD22-A102 加速水汽抵抗性-無偏置高壓蒸煮
JESD22-A108 溫度，偏置電壓，以及工作壽命（IC壽命試驗）
JESD22-A110 高加速溫濕度應力試驗（HAST）
JESD22-A118 加速水汽抵抗性--無偏壓HAST(無偏置電壓未飽和高壓蒸汽)
400電話
