1、導言
1.1 範圍
本部分適用於室溫條件下的低氣壓試驗。
本試驗的目的是用於確定元件、設備或其他產品在低氣壓條件下貯存、運輸或使用的適應性。
注:在高溫和低氣壓綜合或低溫和低氣壓綜合環境下貯存、運輸或使用的產品，這種綜合環境對於施加於產品上的應力或失效機理的影響是十分重要的，應按下列標準進行試驗:
——GB/T 2423.25 電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗
——GB/T 2423. 26電工電子產
品環境試驗第 2部分:試驗方法試驗 Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗
1.2 規範性引用文件
下列文件中的條款通過GB/T2423標準的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，其隨後所有的修改單（不包括勘誤的內容）或修訂版均不適用於本部分，然而，鼓勵根據本部分達成協議的各方研究是否可使用這些文件的新版本。凡是不注日期的引用文件，其新版本適用於本部分。
GB/T 2421電工電 子產品環境試驗第 1部分:總則（GB/T 2421- 1999， IEC 60068-1:
1988，IDT）
GB/T 2423. 25電工電子產 品環境試驗第 2部分:試驗方法試驗 Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗（GB/T 2423. 25一2008 ，1EC 60068-2-40 :1983 ，IDT）
GB/T 2423. 26電工電子產 品環境試驗第 2部分:試驗方法試驗 Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗（GB/T 2423. 26一2008 ，1EC 60068-2-41 : 1983，IDT）
ISO 2533標準大氣
2、一般說明
將試驗樣品放入高低溫低氣壓試驗箱（室），然後將試驗箱（室）內氣壓降低到相關規範規定的值，並保持規定持續時間的試驗。
3、試驗設備
高低溫低氣壓試驗箱（室）應具有能保持本部分第4章所規定的低氣壓條件的能力。
在恢複氣壓至正常時，應注意避免發生由於輔助設備、裝置及導人不清潔的空氣而使箱內空氣發生汙染的情況。
當對散熱試驗樣品進行試驗時，相關規範可根據GB/T2423.26的要求對試驗箱（室）進行適當的規定。
4、嚴酷等級
相關規範應當規定氣壓和試驗持續時間的嚴酷等級，其值應從4.1和4.2的規定中優先選擇。
4.1 氣壓
在高低溫低氣壓試驗箱（室）中應能保持表1中的氣壓，其容差為±5%或±0.1 kPa（取較大值），在嚴酷等級為84 kPa時的容差為±2 kPa。
4.2試驗持續時間
相關規範應優先選用下列試驗持續時間之一:
——5 min；
——30 min；
——2 h；
——4 h；
——16 h。
5、預處理
可根據相關規範的要求進行預處理。
6、初始檢測
應按相關規範要求對樣品進行視檢及電氣與機械性能檢測。
7、條件試驗
7.1高低溫低氣壓試驗箱（室）內的溫度應在規定的試驗標準大氣條件溫度範圍內。
當不要求樣品在運行狀態下進行試驗時，樣品應在不包裝、不通電、“準備使用”狀態，按其正常位置（除非另有規定）放人高低溫低氣壓試驗箱（室）內。
7.2 將高低溫低氣壓試驗箱（室）內的氣壓降低到符合規定嚴酷等級的值，如有需要，相關規範可規定氣壓變化速度不大於10 kPa/ min。
7.3當要求樣品在運行狀態下進行試驗時，樣品應通電或加電氣負載，應檢查確定試驗樣品是否能滿足相關規範規定的功能。試驗樣品可按規定的持續時間保持在運行狀態，或是按相關規範的要求斷開電源。
若相關規範要求中間檢測時，則應進行中間檢測。
對散熱試驗樣品，相關規範可要求在降低氣壓以前或以後對試驗樣品通電足夠長的時間，使其達到熱穩定，並進行功能試驗和（或）檢測。
7.4氣壓應保持規定的持續時間。
7.5 使氣壓恢複到常壓，若相關規範有要求時，氣壓變化的速度應不超過10 kPa/ min。
8、恢複
若相關規範無其他規定，試驗樣品應保持在標準大氣條件下進行恢複，時間不少於1 h，但也不超過2 h。
9、後檢測
應按相關規範的要求，對試驗樣品進行視檢及電氣與機械性能檢測。
10、相關規範應給的資料
相關規範應用本試驗方法時，應盡量給出下列適用的細節:
a）預處理（見第5章）；
b）初始檢測（見第6章）；
c）條件試驗時試驗樣品狀態（見7.3）；
d）嚴酷等級:試驗氣壓和持續時間（見第4章）；
e）對采用壓 力變化速度的限製（見7.2和/或7.5）；
f）條件試驗期間熱穩定、檢測和（或）負載檢查（見7.1或7.3）；
g）恢複（見第 8章）；
h）後檢測（見第 9章）。
