功率半導體器件穩態濕熱高壓偏置試驗方法，用以評價非氣密封裝的功率半導體器件在高溫高濕環境下耐受高電壓的可靠性。不但適用於矽功率器件，也適用於碳化矽及氮化家功率器件。