試驗使用的設備是能夠控製規定溫度和濕度的試驗箱。可以采用下列兩種能滿足試驗條件的專用試驗箱：一種是能保持70℃溫度且相對濕度低於20%的水蜜桃一区一区集免费看，另一種是能保持-55℃溫度的蜜桃视频APP安装下载。亦可采用一種能調節為上述兩種溫度的通用高低溫交變濕熱試驗箱，但該試驗箱溫度為70℃時相對濕度應低於20%。

電工電子產品環境可靠性測試包括：低溫工作試驗、高溫工作試驗、低溫貯存試驗、高溫貯存試驗、恒定濕熱試驗、交變濕熱試驗、溫度循環試驗、振動試驗、衝擊試驗、自由跌落試驗、低氣壓試驗、防塵試驗、淋雨試驗等。

高溫貯存試驗通常用於確定貯存條件下時間和溫度對熱故障機製的影響，以及固態電子設備（包括非易失性存儲設備）的時間-故障分布（數據保留故障重建機製）。在試驗過程中，在不施加電氣條件的情況下，使用加速應力溫度，根據時間、溫度和包裝（如有），利用阿倫尼烏斯加速方程建立了熱失效機理模型。

元器件可靠性試驗是由一係列通用的基本試驗單元——可靠性基礎試驗組成，把組成各種可靠性試驗的基本的試驗叫做可靠性基礎試驗。可靠性基礎試驗如高溫貯存試驗、振動試驗和鹽霧試驗等，它們都是獨立的試驗，不同的組合可構成不同的可靠性試驗。因此，可靠性基礎試驗的結果將直接影響元器件可靠性試驗的結果。所以，這些通用的可靠性基礎試驗是做好元器件可靠性試驗的重要保證。

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